双参数指数分布门限参数估计的讨论OA北大核心CSCDCSTPCD
Discussion on gate parameters of two-parameter exponential distribution
针对双参数指数分布门限参数的两种最常用估计“极大似然估计和最小方差无偏估计”的缺陷,提出了一种新的估计方法,给出了最小方差无偏估计不合理程度的一个度量,统计计算结果表明了新估计的优良性.
This paper, discusses the defects of MLE and MVUE which are the two mostly used method of estimate for gate parameters of two-parameter exponential distribution, and proposes a new method, pointing out a metric of a reasonable degree about MVUE. Statistical calculations show the superioriy of the new method of estimate.
陈应保;黄欣;李静
华中师范大学数学与统计学学院,武汉430079华中师范大学数学与统计学学院,武汉430079华中师范大学数学与统计学学院,武汉430079
数理科学
双参数指数分布门限参数统计结构相对风险效率
two-parameter exponential distribution gate parameters statistical structure relative risk efficiency
《华中师范大学学报（自然科学版）》 2011 (3)
345-349,5
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