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硅微麦克风探测模块辐射性能研究

左夏茂 赵立宏 邓骞 王健

机电信息Issue(3):134-135,2.
机电信息Issue(3):134-135,2.

硅微麦克风探测模块辐射性能研究

左夏茂 1赵立宏 2邓骞 1王健3

作者信息

  • 1. 南华大学机械工程学院,湖南衡阳421001
  • 2. 南华大学电气工程学院,湖南衡阳421001
  • 3. 南华大学核技术与核科学学院,湖南衡阳421001
  • 折叠

摘要

关键词

硅微机械电容式麦克风/抗辐照特性/研究

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

左夏茂,赵立宏,邓骞,王健..硅微麦克风探测模块辐射性能研究[J].机电信息,2012,(3):134-135,2.

机电信息

1671-0797

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