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基于熵的磁瓦内表面起级缺陷检测与识别

徐光明

数字技术与应用Issue(12)：176-177,2.
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数字技术与应用Issue(12)：176-177,2.

基于熵的磁瓦内表面起级缺陷检测与识别

徐光明1

作者信息

  • 1. 广东培正学院计算机科学与工程系,广东广州580130
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摘要

关键词

磁瓦/起级缺陷/缺陷识别/纹理分析

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

徐光明..基于熵的磁瓦内表面起级缺陷检测与识别[J].数字技术与应用,2011,(12):176-177,2.

数字技术与应用

1007-9416

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