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基于ARM7数字集成电路测试仪的设计

戴家友

数字技术与应用Issue(4):134-134,136,2.
数字技术与应用Issue(4):134-134,136,2.

基于ARM7数字集成电路测试仪的设计

戴家友1

作者信息

  • 1. 广东惠州市惠城职业技术学校,广东惠州516003
  • 折叠

摘要

关键词

测试仪/LPC2103/检测/集成电路

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

戴家友..基于ARM7数字集成电路测试仪的设计[J].数字技术与应用,2012,(4):134-134,136,2.

数字技术与应用

1007-9416

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