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数字技术与应用
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基于ARM7数字集成电路测试仪的设计
基于ARM7数字集成电路测试仪的设计
戴家友
数字技术与应用
Issue(4):134-134,136,2.
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数字技术与应用
Issue(4)
:134-134,136,2.
基于ARM7数字集成电路测试仪的设计
戴家友
1
作者信息
1.
广东惠州市惠城职业技术学校,广东惠州516003
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摘要
关键词
测试仪
/
LPC2103
/
检测
/
集成电路
分类
信息技术与安全科学
引用本文
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戴家友..基于ARM7数字集成电路测试仪的设计[J].数字技术与应用,2012,(4):134-134,136,2.
数字技术与应用
ISSN:
1007-9416
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