非晶态碲镉汞薄膜晶化过程的椭圆偏振光谱研究OA北大核心CSCDCSTPCD
Characterization of the Crystallization of Amorphous Hg0.2Cd0.8Te Using Spectroscopic Ellipsometry
采用椭圆偏振光谱技术研究了非晶态碲镉汞薄膜在不同退火条件下的结构性能.结果表明非晶态碲镉汞薄膜在退火过程中的成核晶化是在薄膜内部均匀发生的,对于不同晶化程度的薄膜,其光学常数谱具有明显的特征,通过对光学常数谱的分析研究可以对非晶态碲镉汞薄膜的晶化程度进行量化表征,从而控制退火条件,优化材料质量.
Spectroscopic ellipsometry (SE) has been used to characterize the formation of polycrystalline Hg0.8Cd0.2Te of 1 μm thick a-Hg0.8Cd0.2Te films during solid phase crystallization at different annealing temperatures.The results from the Bruggeman EMA suggest that erystallite nucleation forms homogeneously from sites distributed uniformly within the penetration depth light.The evolution of the amorphous Hg0.8Cd0.2Te into crystalline structure was investigated,w…查看全部>>
孔金丞;王光华;杨佩原;杨丽丽;李雄军;赵俊;张鹏举;孔令德;姬荣斌
昆明物理研究所,云南 昆明 650223昆明物理研究所,云南 昆明 650223中国兵器科学研究院,北京 100089昆明物理研究所,云南 昆明 650223昆明物理研究所,云南 昆明 650223昆明物理研究所,云南 昆明 650223昆明物理研究所,云南 昆明 650223昆明物理研究所,云南 昆明 650223昆明物理研究所,云南 昆明 650223
信息技术与安全科学
椭圆偏振光谱非晶态碲镉汞晶化
spectroscopic ellipsometry(SE) amorphous Hg0.8Cd0.2Te(amorphous MCT, a-MCT),crystallization
《红外技术》 2012 (4)
非晶态碲镉汞薄膜制备与光电特性研究
187-190,4
Project supported by the National Natural Science Foundation of China (No.60576069)
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