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航天继电器加速贮存退化可靠性建模和统计分析

王召斌 蔡昭文 翟国富 黄晓毅 任万滨

低压电器Issue(17):1-7,7.
低压电器Issue(17):1-7,7.

航天继电器加速贮存退化可靠性建模和统计分析

Accelerated Storage Degradation Reliability Modeling and Statistical Analysis of Aerospace Relay

王召斌 1蔡昭文 2翟国富 3黄晓毅 1任万滨1

作者信息

  • 1. 哈尔滨工业大学电气工程及自动化学院,黑龙江哈尔滨150001
  • 2. 江苏科技大学电子信息学院,江苏镇江212003
  • 3. 桂林航天电子有限公司,广西桂林541000
  • 折叠

摘要

关键词

航天继电器/贮存/可靠性/退化/接触电阻/统计分析

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

王召斌,蔡昭文,翟国富,黄晓毅,任万滨..航天继电器加速贮存退化可靠性建模和统计分析[J].低压电器,2012,(17):1-7,7.

基金项目

国家高技术研究发展计划(863计划)专项经费资助(2009AA04Z110) (863计划)

低压电器

2095-8188

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