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耐电痕化指数试验设备的确认方法及影响因素分析

潘孝俊 郭艳萍

家电科技Issue(5):63-65,3.
家电科技Issue(5):63-65,3.

耐电痕化指数试验设备的确认方法及影响因素分析

The method of conforming proof tracking index test equipment and Analysis of Influencing factors

潘孝俊 1郭艳萍1

作者信息

  • 1. 江苏省产品质量监督检验研究院 江苏南京210007
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摘要

关键词

耐电痕化指数/设备确认/影响因素/CTL决议

引用本文复制引用

潘孝俊,郭艳萍..耐电痕化指数试验设备的确认方法及影响因素分析[J].家电科技,2013,(5):63-65,3.

家电科技

1672-0172

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