无机材料学报2013，Vol.28Issue(5)：491-496,6.DOI:10.3724/SP.J.1077.2013.12385
温度控制织构金属基带上YBCO外延薄膜生长及缺陷研究
Effect of Substrate Temperature and Dislocation Density on the Epitaxial Growth of YBCO Thin Films on Textured Metal Tapes
徐亚新 1熊杰 1夏钰东 1张飞 1薛炎 1陶伯万1
作者信息
- 1. 电子科技大学电子薄膜与集成器件国家重点实验室,成都610054
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摘要
关键词
YBa2Cu3O7-δ(YBCO)/基片温度/生长取向/位错密度分类
信息技术与安全科学引用本文复制引用
徐亚新,熊杰,夏钰东,张飞,薛炎,陶伯万..温度控制织构金属基带上YBCO外延薄膜生长及缺陷研究[J].无机材料学报,2013,28(5):491-496,6.
