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电子元器件失效分析的常用技术手段及应用

陈逵 崔斌 尹粤卿 方玉明

大科技Issue(11)：P.305-306,2.
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大科技Issue(11)：P.305-306,2.

电子元器件失效分析的常用技术手段及应用

陈逵 1崔斌 2尹粤卿 2方玉明2

作者信息

  • 1. 格力电器（合肥）有限公司,安徽合肥230000
  • 折叠

摘要

关键词

元器件/失效分析/技术手段

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

陈逵,崔斌,尹粤卿,方玉明..电子元器件失效分析的常用技术手段及应用[J].大科技,2013,(11):P.305-306,2.

大科技

1004-7344

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