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高可靠性片上系统总线结构的参数优化

叶凝 应忍冬 朱新忠 李超 刘佩林

计算机与现代化Issue(9):190-194,198,6.
计算机与现代化Issue(9):190-194,198,6.DOI:10.3969/j.issn.1006-2475.2013.09.047

高可靠性片上系统总线结构的参数优化

Parameter Optimization of High-reliable Bus in System-on-Chip

叶凝 1应忍冬 1朱新忠 2李超 2刘佩林1

作者信息

  • 1. 上海交通大学北斗导航与位置服务上海市重点实验室,上海200240
  • 2. 上海航天计算机技术研究所,上海200050
  • 折叠

摘要

关键词

单粒子效应/可靠性/建模/参数优化

Key words

single event effect/reliability/modeling/parameter optimization

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

叶凝,应忍冬,朱新忠,李超,刘佩林..高可靠性片上系统总线结构的参数优化[J].计算机与现代化,2013,(9):190-194,198,6.

基金项目

国家863计划基金资助项目(2011AA120201) (2011AA120201)

上海航天基金资助项目(HTJ10-14) (HTJ10-14)

计算机与现代化

OACSTPCD

1006-2475

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