桂林电子科技大学学报2013，Vol.33Issue(3)：228-230,235,4.
一种新的嵌入式系统存储器测试算法及应用
A new memory testing algorithm of embedded system and its application
摘要
关键词
嵌入式系统/存储器测试/故障覆盖率Key words
embedded system/memory testing/fault coverage分类
信息技术与安全科学引用本文复制引用
周上群..一种新的嵌入式系统存储器测试算法及应用[J].桂林电子科技大学学报,2013,33(3):228-230,235,4.基金项目
广西自然科学基金(桂科自0991241) （桂科自0991241）
