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纳米DDR SRAM器件重离子单粒子效应试验研究

罗尹虹 张凤祁 郭红霞 周辉 王燕萍 张科营

强激光与粒子束2013,Vol.25Issue(10):2705-2710,6.
强激光与粒子束2013,Vol.25Issue(10):2705-2710,6.DOI:10.3788/HPLPB20132510.2705

纳米DDR SRAM器件重离子单粒子效应试验研究

Experimental study on heavy-ion single event effect on nanometer DDR SRAM

罗尹虹 1张凤祁 1郭红霞 1周辉 1王燕萍 1张科营1

作者信息

  • 1. 西北核技术研究所,西安 710024
  • 折叠

摘要

关键词

纳米SRAM/单粒子效应/多位翻转/测试图形/倾角

Key words

nanometer SRAM/single event effect/multiple-cell upset/test pattern/tilt angle

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

罗尹虹,张凤祁,郭红霞,周辉,王燕萍,张科营..纳米DDR SRAM器件重离子单粒子效应试验研究[J].强激光与粒子束,2013,25(10):2705-2710,6.

强激光与粒子束

OA北大核心CSCDCSTPCD

1001-4322

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