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基于频率响应的IGBT模块内部缺陷诊断

周生奇 周雒维 孙鹏菊 吴军科 李亚萍

高电压技术2013,Vol.39Issue(11):2670-2677,8.
高电压技术2013,Vol.39Issue(11):2670-2677,8.DOI:10.3969/j.issn.1003-6520.2013.11.014

基于频率响应的IGBT模块内部缺陷诊断

Internal Defects Diagnosis of IGBT Module Based on Frequency Response

周生奇 1周雒维 1孙鹏菊 1吴军科 1李亚萍1

作者信息

  • 1. 重庆大学输配电装备及系统安全与新技术国家重点实验室,重庆400030
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摘要

关键词

可靠性/缺陷/IGBT模块/脉冲响应/频率响应分析/寄生参数

Key words

reliability/defect/IGBT module/impulse response/frequency response analysis/parasitic parameter

引用本文复制引用

周生奇,周雒维,孙鹏菊,吴军科,李亚萍..基于频率响应的IGBT模块内部缺陷诊断[J].高电压技术,2013,39(11):2670-2677,8.

基金项目

基金资助项目:国家自然科学基金(51077137 ()

51137006) ()

国际科技合作计划(2010DFA72250).Project supported by National Natural Science Foundation of China (51077137,51137006),International Science & Technology Cooperation Program of China (2010DFA72250). (2010DFA72250)

高电压技术

OA北大核心CSCDCSTPCD

1003-6520

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