基于晶体电光效应的绝缘子带电检测研究OA北大核心

提出了一种利用基于Pockels效应的光学电场传感器对绝缘子进行带电检测的方法.通过原理分析和实际试验进行了对比论证,验证了这种理论以及实施方式的正确、有效性.实验结果表明,在复合绝缘子高压端,低压端,以及中部的劣化,都能通过电场测量结果表现出来,可为电场法检测劣化绝缘子提供参考.也就是说,使用这种光学电场传感器检测绝缘子的方法结果是科学的、有效的,是解决现有绝缘子带电检测困难,特别是复合绝缘子带电检测手段的重要补充.