现代雷达2013，Vol.35Issue(12)：76-79,4.
基于加速寿命实验的GaN HEMT可靠性研究
Reliability Estimation of GaN HEMT Based on Accelerated Life Testing
陈斯文 1高晖 2许海涛2
作者信息
- 1. 海军驻南京地区电子设备军事代表室, 南京210013
- 2. 南京电子技术研究所, 南京210039
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摘要
关键词
GaN功率管/加速寿命实验/可靠性Key words
GaN power devices/accelerated life testing/reliability分类
信息技术与安全科学引用本文复制引用
陈斯文,高晖,许海涛..基于加速寿命实验的GaN HEMT可靠性研究[J].现代雷达,2013,35(12):76-79,4.
