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数控印制电路板加速寿命试验与统计分析

解传宁 唐小琦 金健 张航军

华中科技大学学报(自然科学版)2013,Vol.41Issue(12):1-6,6.
华中科技大学学报(自然科学版)2013,Vol.41Issue(12):1-6,6.

数控印制电路板加速寿命试验与统计分析

Accelerated life test and statistical analysis of numerical control PCB

解传宁 1唐小琦 1金健 1张航军1

作者信息

  • 1. 华中科技大学机械科学与工程学院,湖北武汉430074
  • 折叠

摘要

关键词

数控印制电路板/双应力加速寿命试验/加速寿命模型/可靠性/失效分析

Key words

numerical control printed circuit boards/double stress accelerated life test/accelerated life model/reliability/failure

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

解传宁,唐小琦,金健,张航军..数控印制电路板加速寿命试验与统计分析[J].华中科技大学学报(自然科学版),2013,41(12):1-6,6.

基金项目

国家重大科技专项资助项目(2012ZX04001012) (2012ZX04001012)

广东省部产学研重大专项资助项目(2012A090300012). (2012A090300012)

华中科技大学学报(自然科学版)

OA北大核心CSCDCSTPCD

1671-4512

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