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国产X射线衍射仪低温测试的温度准确性验证

路大勇 程崴 金文仁

现代科学仪器Issue(1):153-157,5.
现代科学仪器Issue(1):153-157,5.

国产X射线衍射仪低温测试的温度准确性验证

Confirmation of Temperature Accuracy of Low-temperature Measurements on Domestic X-ray Diffractometer

路大勇 1程崴 1金文仁2

作者信息

  • 1. 吉林化工学院材料科学与工程研究中心 吉林132022
  • 2. 东北师范大学化学学院 长春130024
  • 折叠

摘要

关键词

X射线衍射仪/变温样品室/钛酸镧钡陶瓷/低温粉末XRD测量/介电温度特性/变温拉曼光谱

Key words

X-ray diffractometer/Temperature camera/Barium lanthanum titanate ceramic/Powder XRD measurement at a low temperature/Dielectric-temperature characteristics/Temperature-dependent Raman spectra

分类

自科综合

引用本文复制引用

路大勇,程崴,金文仁..国产X射线衍射仪低温测试的温度准确性验证[J].现代科学仪器,2014,(1):153-157,5.

基金项目

吉林省科技发展计划项目(20121825)和吉林市工业高新技术项目(201212206) (20121825)

现代科学仪器

OACSTPCD

1003-8892

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