计算机工程与科学2014，Vol.36Issue(3)：420-425,6.DOI:10.3969/j.issn.1007-130X.2014.03.008
基于简化电阻电容电路的单粒子效应应用研究
Single event effects applied research based on a simplified resistor-capacitor circuit
摘要
关键词
单粒子效应/软错误/简化电阻电容电路模型/临位翻转预测Key words
SEU/soft error/simplified RC circuit/prediction of adjacent position upset分类
信息技术与安全科学引用本文复制引用
邓全,王天琦,李鹏,张民选,肖立伊..基于简化电阻电容电路的单粒子效应应用研究[J].计算机工程与科学,2014,36(3):420-425,6.基金项目
国家自然科学基金资助项目(60970036) （60970036）
教育部博士点基金资助项目(20124307110016) （20124307110016）
