半导体制冷片制冷性能评估系统OA
A new evaluation system of refrigeration performance for semiconductor refrigerating element
现有半导体制冷元件评估方法成本过高，而且输入口的水温与输出口的水温不同，会使输入水与输出水的热量的损耗大小不一样；传统的测量方法中，半导体制冷片的赛贝克系数、电阻、热导是通过不同温度下的实验结果估算出来的，这样就导致在计算制冷量大小的时候不精确。为此，提出了一种通过平衡输入与输出温度来避免产生这种误差的方法。
Due to the current semiconductor refrigerating element evaluation method has a high cost . Also , the temperature of in-put and output water are different . Leads to the heat loss in the input and output water is different . In traditional measuring method , the seebeck coefficient , resistance , thermal conductivity of the semiconductor refrigeration piece is estimated by the experimental re-sults under different temperature . This also leads the calculatio…查看全部>>
刘良斌;吴新开;卜志东
湖南科技大学 信息与电气工程学院，湖南 湘潭 411201湖南科技大学 信息与电气工程学院，湖南 湘潭 411201湖南科技大学 信息与电气工程学院，湖南 湘潭 411201
半导体制冷制冷性能评估系统
semiconductor refrigeration refrigerationperformanceevaluation system
《微型机与应用》 2014 (2)
82-83,87,3
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