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三维芯片中TSV链式冗余修复电路的设计与实现

袁强 赵振宇 窦强 李鹏 刘海斌

计算机工程与科学2014,Vol.36Issue(5):828-835,8.
计算机工程与科学2014,Vol.36Issue(5):828-835,8.DOI:10.3969/j.issn.1007-130X.2014.05.009

三维芯片中TSV链式冗余修复电路的设计与实现

Design and implementation of TSV chain redundancy repair circuit in 3D chip

袁强 1赵振宇 1窦强 1李鹏 1刘海斌1

作者信息

  • 1. 国防科学技术大学计算机学院,湖南长沙410073
  • 折叠

摘要

关键词

三维芯片/TSV链/冗余修复电路/整体修复率

Key words

3D chips/TSV chain/redundancy repair circuit/overall repair ratio

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

袁强,赵振宇,窦强,李鹏,刘海斌..三维芯片中TSV链式冗余修复电路的设计与实现[J].计算机工程与科学,2014,36(5):828-835,8.

基金项目

国家核高基重大专项资助项目(2013ZX01028-001-002) (2013ZX01028-001-002)

国家自然科学基金资助项目(61272139) (61272139)

计算机工程与科学

OA北大核心CSCDCSTPCD

1007-130X

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