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6H-SiC衬底上多晶Si薄膜热壁CVD间隔生长与结构表征

高战军 陈治明 李连碧 赵萌 黄磊

人工晶体学报2014,Vol.43Issue(8):1965-1969,5.
人工晶体学报2014,Vol.43Issue(8):1965-1969,5.

6H-SiC衬底上多晶Si薄膜热壁CVD间隔生长与结构表征

Growth and Structural Characterization of Polycrystalline Silicon Film Pulsed on 6H-SiC Substrate by HWCVD

高战军 1陈治明 1李连碧 1赵萌 1黄磊1

作者信息

  • 1. 西安理工大学,西安710048
  • 折叠

摘要

关键词

热壁LPCVD/多晶Si薄膜/择优取向/表面粗糙度

Key words

hot-wall LPCVD / polycrystalline Si thin film / preferred orientation / surface roughness

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

高战军,陈治明,李连碧,赵萌,黄磊..6H-SiC衬底上多晶Si薄膜热壁CVD间隔生长与结构表征[J].人工晶体学报,2014,43(8):1965-1969,5.

基金项目

国家自然科学基金(51177134) (51177134)

人工晶体学报

OA北大核心CSCDCSTPCD

1000-985X

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