光学精密工程2014,Vol.22Issue(9):2399-2406,8.DOI:10.3788/OPE.20142209.2399
双探针原子力显微镜视觉对准系统
Vision alignment system for AFM with dual probes
摘要
关键词
原子力显微镜(AFM)/双探针/尺寸测量/对准/视觉引导Key words
Atomic Force Microscope (AFM)/dual-probe/dimension measurement/alignment/vision guidance分类
机械制造引用本文复制引用
张华坤,高思田,卢明臻,李伟,王龙龙..双探针原子力显微镜视觉对准系统[J].光学精密工程,2014,22(9):2399-2406,8.基金项目
国家科学支撑计划资助项目(No.2011BAK15B02) (No.2011BAK15B02)