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双探针原子力显微镜视觉对准系统

张华坤 高思田 卢明臻 李伟 王龙龙

光学精密工程2014,Vol.22Issue(9):2399-2406,8.
光学精密工程2014,Vol.22Issue(9):2399-2406,8.DOI:10.3788/OPE.20142209.2399

双探针原子力显微镜视觉对准系统

Vision alignment system for AFM with dual probes

张华坤 1高思田 1卢明臻 2李伟 2王龙龙2

作者信息

  • 1. 合肥工业大学仪器科学与光电工程学院,安徽合肥230009
  • 2. 中国计量科学研究院纳米与新材料计量研究所,北京100013
  • 折叠

摘要

关键词

原子力显微镜(AFM)/双探针/尺寸测量/对准/视觉引导

Key words

Atomic Force Microscope (AFM)/dual-probe/dimension measurement/alignment/vision guidance

分类

机械制造

引用本文复制引用

张华坤,高思田,卢明臻,李伟,王龙龙..双探针原子力显微镜视觉对准系统[J].光学精密工程,2014,22(9):2399-2406,8.

基金项目

国家科学支撑计划资助项目(No.2011BAK15B02) (No.2011BAK15B02)

光学精密工程

OA北大核心CSCDCSTPCD

1004-924X

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