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EEPROM瞬时剂量率效应实验研究

王桂珍 齐超 林东生 白小燕 杨善潮 李瑞宾 刘岩 金晓明

原子能科学技术2014,Vol.48Issue(Z1):727-731,5.
原子能科学技术2014,Vol.48Issue(Z1):727-731,5.DOI:10.7538/yzk.2014.48.S0.0727

EEPROM瞬时剂量率效应实验研究

Test Study on Transient Dose Rate Effect of EEPROM

王桂珍 1齐超 1林东生 1白小燕 1杨善潮 1李瑞宾 1刘岩 1金晓明1

作者信息

  • 1. 西北核技术研究所强脉冲辐射环境模拟与效应国家重点实验室,陕西西安710024
  • 折叠

摘要

关键词

浮栅器件/EEPROM/剂量率闩锁/闩锁阈值

Key words

floating gate device/EEPROM/dose rate latchup/latchup level

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

王桂珍,齐超,林东生,白小燕,杨善潮,李瑞宾,刘岩,金晓明..EEPROM瞬时剂量率效应实验研究[J].原子能科学技术,2014,48(Z1):727-731,5.

基金项目

装备预先研究项目资助 ()

原子能科学技术

OA北大核心CSCDCSTPCD

1000-6931

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