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不同负载条件下绝缘栅双极型晶体管死区时间设置分析

汪波 罗毅飞 刘宾礼 唐勇

高电压技术2014,Vol.40Issue(11):3584-3589,6.
高电压技术2014,Vol.40Issue(11):3584-3589,6.DOI:10.13336/j.1003-6520.hve.2014.11.039

不同负载条件下绝缘栅双极型晶体管死区时间设置分析

Analysis of Dead Time Set for Insulated Gate Bipolar Transistor Under Different Load Conditions

汪波 1罗毅飞 1刘宾礼 1唐勇1

作者信息

  • 1. 海军工程大学舰船综合电力技术国防科技重点实验室,武汉430033
  • 折叠

摘要

关键词

IGBT/死区时间设置/穿通/阻性负载/感性负载/空载

Key words

IGBT/dead time setting/shoot through/resistance load/inductance load/no load

引用本文复制引用

汪波,罗毅飞,刘宾礼,唐勇..不同负载条件下绝缘栅双极型晶体管死区时间设置分析[J].高电压技术,2014,40(11):3584-3589,6.

基金项目

国家自然科学基金(50737004 ()

51277178).Project supported by National Natural Science Foundation of China (50737004,51277178). (50737004,51277178)

高电压技术

OA北大核心CSCDCSTPCD

1003-6520

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