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光学元件亚表面缺陷的损伤性检测方法

王洪祥 李成福 朱本温 王景贺

强激光与粒子束2014,Vol.26Issue(12):129-133,5.
强激光与粒子束2014,Vol.26Issue(12):129-133,5.DOI:10.11884/HPLPB201426.122008

光学元件亚表面缺陷的损伤性检测方法

Destructive methods for detecting subsurface defects of fused silica optics

王洪祥 1李成福 1朱本温 1王景贺1

作者信息

  • 1. 哈尔滨工业大学机电工程学院,哈尔滨150001
  • 折叠

摘要

关键词

熔石英元件/亚表面缺陷/研磨加工/损伤性检测/亚表面裂纹

Key words

fused silica optics/subsurface defects/lapping/destructive detection/subsurface cracks

分类

矿业与冶金

引用本文复制引用

王洪祥,李成福,朱本温,王景贺..光学元件亚表面缺陷的损伤性检测方法[J].强激光与粒子束,2014,26(12):129-133,5.

基金项目

国家自然科学基金委员会与中国工程物理研究院联合基金项目(U1230110) (U1230110)

国家自然科学基金项目(51475106) (51475106)

中国工程物理研究院超精密加工技术重点实验室开放基金项目(KF14007) (KF14007)

强激光与粒子束

OA北大核心CSCD

1001-4322

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