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PECVD沉积硅薄膜退火性质的分析

张林睿 周炳卿 高玉伟 张龙龙 张娜 路小翠

人工晶体学报2014,Vol.43Issue(12):3145-3150,6.
人工晶体学报2014,Vol.43Issue(12):3145-3150,6.

PECVD沉积硅薄膜退火性质的分析

Properties Analysis of Silicon Film Deposited by PECVD after Annealing

张林睿 1周炳卿 1高玉伟 1张龙龙 1张娜 1路小翠1

作者信息

  • 1. 内蒙古师范大学物理与电子信息学院,功能材料物理与化学自治区重点实验室,呼和浩特010022
  • 折叠

摘要

关键词

等离子体增强化学气相沉积/硅薄膜/退火

Key words

PECVD / silicon thin film / annealing

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

张林睿,周炳卿,高玉伟,张龙龙,张娜,路小翠..PECVD沉积硅薄膜退火性质的分析[J].人工晶体学报,2014,43(12):3145-3150,6.

基金项目

国家自然科学基金(51262022) (51262022)

内蒙古师范大学“十百千”人才工程资助项目(RCPY-2-2012-K-041) (RCPY-2-2012-K-041)

人工晶体学报

OA北大核心CSCDCSTPCD

1000-985X

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