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全数字硬件化锁相环参数分析与设计

刘亚静 范瑜

电工技术学报2015,Vol.30Issue(2):172-179,8.
电工技术学报2015,Vol.30Issue(2):172-179,8.

全数字硬件化锁相环参数分析与设计

Design and Analysis of All-Digital Full-Hardware Phase-Locked Loop

刘亚静 1范瑜1

作者信息

  • 1. 北京交通大学电气工程学院 北京 100044
  • 折叠

摘要

关键词

锁相环/全数字化/硬件化/现场可编程逻辑阵列

Key words

Phase-locked loop/ all-digital/ full-hardware/ field-programmable gate array(FPGA)

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

刘亚静,范瑜..全数字硬件化锁相环参数分析与设计[J].电工技术学报,2015,30(2):172-179,8.

基金项目

博士点基金(20130009120032)和中央高校基本科研业务费(2013JBM084)资助项目. (20130009120032)

电工技术学报

OA北大核心CSCDCSTPCD

1000-6753

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