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中/长波红外双衍射级次共路Offner成像光谱仪

张浩 方伟 叶新 姜明 宋宝奇

光学精密工程2015,Vol.23Issue(4):965-974,10.
光学精密工程2015,Vol.23Issue(4):965-974,10.DOI:10.3788/OPE.20152304.0965

中/长波红外双衍射级次共路Offner成像光谱仪

Dual-order overlapped Offner imaging spectrometer in middle-and long-wave infrared regions

张浩 1方伟 2叶新 1姜明 1宋宝奇1

作者信息

  • 1. 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所,吉林长春130033
  • 2. 中国科学院大学,北京100049
  • 折叠

摘要

关键词

成像光谱仪/双衍射级次/共光路探测/双波段红外焦平面探测器(IR FPAs)

Key words

imaging spectrometer/dual-order overlapped/common-path detection/dual-band IR Focal Plane Array(FPA)

分类

机械制造

引用本文复制引用

张浩,方伟,叶新,姜明,宋宝奇..中/长波红外双衍射级次共路Offner成像光谱仪[J].光学精密工程,2015,23(4):965-974,10.

基金项目

国家自然科学基金资助项目(No.41227003) (No.41227003)

光学精密工程

OA北大核心CSCDCSTPCD

1004-924X

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