现代应用物理2015，Vol.6Issue(1)：37-41,5.
侧壁粗糙度与几何结构对 SOI 脊形波导损耗的影响
Effects of Sidewall-Roughness and Geometry on Scattering Loss of SOI Rib Waveguide
刘军 1刘金良 2陈亮 1张忠兵 1刘林月1
作者信息
- 1. 西北核技术研究所,西安710024
- 2. 国防科技大学 机电工程与自动化学院,长沙410073
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摘要
关键词
集成光学/脊形波导/散射损耗/粗糙度分类
信息技术与安全科学引用本文复制引用
刘军,刘金良,陈亮,张忠兵,刘林月..侧壁粗糙度与几何结构对 SOI 脊形波导损耗的影响[J].现代应用物理,2015,6(1):37-41,5.
