电子科技2015，Vol.28Issue(6)：21-23,3.DOI:10.16180/j.cnki.issn1007-7820.2015.06.006
基于STK二次开发的链路测控仿真
Simulation of TT&C Based on Secondary Development of STK
丁学勇 1崔津华1
作者信息
- 1. 西安电子科技大学电子信息攻防对抗与仿真重点实验室,陕西西安710071
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摘要
关键词
测控链路/STK二次开发/STK/X/仿真建模分类
信息技术与安全科学引用本文复制引用
丁学勇,崔津华..基于STK二次开发的链路测控仿真[J].电子科技,2015,28(6):21-23,3.
