宇航材料工艺2015，Vol.45Issue(4)：122-126,5.DOI:10.3969/j.issn.1007-2330.2015.04.028
基于显微CT技术的C/C-SiC复合材料孔隙率测量方法
Porosity Measurement Method of C/C-SiC Composites Based on Micro-CT Technology
江柏红 1周金帅 1高晓进 1江玉朗1
作者信息
- 1. 航天特种材料及工艺技术研究所,北京 100074
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摘要
关键词
显微CT/孔隙率/灰度直方图/阈值分割Key words
Micro-CT/Porosity/Gray histogram/Threshold segmentation分类
矿业与冶金引用本文复制引用
江柏红,周金帅,高晓进,江玉朗..基于显微CT技术的C/C-SiC复合材料孔隙率测量方法[J].宇航材料工艺,2015,45(4):122-126,5.
