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高精度折光修正系统射线描迹快速算法

刘玉梅 陈祥明 赵振维 孙方

电波科学学报2015,Vol.30Issue(4):749-753,5.
电波科学学报2015,Vol.30Issue(4):749-753,5.DOI:10.13443/j.cjors.2014090102

高精度折光修正系统射线描迹快速算法

High-precision fast ray-tracing algorithm used in optical wave refraction error correction system

刘玉梅 1陈祥明 1赵振维 1孙方1

作者信息

  • 1. 中国电波传播研究所,山东青岛266107
  • 折叠

摘要

关键词

折光修正/射线描迹/简化模型/虚高/迭代步长

Key words

optical wave refraction correction/ray-tracing/simplified model/virtual height/iteration step

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

刘玉梅,陈祥明,赵振维,孙方..高精度折光修正系统射线描迹快速算法[J].电波科学学报,2015,30(4):749-753,5.

基金项目

国家自然科学基金(No.41305024,No.41205024) (No.41305024,No.41205024)

电波科学学报

OA北大核心CSCDCSTPCD

1005-0388

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