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基于Arrhenius模型的二极管加速寿命试验研究及应用

罗云峰 陈晓丽

家电科技Issue(10):48-50,3.
家电科技Issue(10):48-50,3.

基于Arrhenius模型的二极管加速寿命试验研究及应用

Research and application on the accelerated life test of the diode based on the Arrhenius model

罗云峰 1陈晓丽2

作者信息

  • 1. 珠海煌荣集成电路科技有限公司 广东珠海519015
  • 2. 珠海格力电器股份有限公司 广东珠海519070
  • 折叠

摘要

关键词

二极管/加速寿命/二极管失效/二极管选型和应用

引用本文复制引用

罗云峰,陈晓丽..基于Arrhenius模型的二极管加速寿命试验研究及应用[J].家电科技,2015,(10):48-50,3.

家电科技

1672-0172

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