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GaAs基非掺杂与掺Te的GaSb薄膜的缺陷结构对比分析

陈燕 郭辛 邓爱红

四川大学学报(自然科学版)2015,Vol.52Issue(6):1293-1296,4.
四川大学学报(自然科学版)2015,Vol.52Issue(6):1293-1296,4.DOI:103969/j.issn.0490-6756.2015.11.019

GaAs基非掺杂与掺Te的GaSb薄膜的缺陷结构对比分析

The defect of undoped and Te-doped GaSb based on GaAs substrate

陈燕 1郭辛 2邓爱红1

作者信息

  • 1. 绵阳师范学院物理与电子工程学院,绵阳621000
  • 2. 绵阳师范学院计算物理研究中心,绵阳621000
  • 折叠

摘要

关键词

GaSb/正电子湮没/X射线衍射/原子力显微镜

分类

数理科学

引用本文复制引用

陈燕,郭辛,邓爱红..GaAs基非掺杂与掺Te的GaSb薄膜的缺陷结构对比分析[J].四川大学学报(自然科学版),2015,52(6):1293-1296,4.

基金项目

国家自然科学基金(11275132) (11275132)

绵阳师范学院自然科学基金(2014A11) (2014A11)

四川大学学报(自然科学版)

OA北大核心CSCDCSTPCD

0490-6756

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