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模拟电子技术故障模拟实验箱开发的创新实验

黄亮 侯建军 马庆龙 陈新 李赵红

高教学刊Issue(1):175-176,178,3.
高教学刊Issue(1):175-176,178,3.

模拟电子技术故障模拟实验箱开发的创新实验

黄亮 1侯建军 1马庆龙 1陈新 1李赵红1

作者信息

  • 1. 北京交通大学 电子信息工程学院 国家电工电子实验教学示范中心,北京 100044
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摘要

Abstract

The reliability of analog circuits is vital to the stability and the security of electronic systems. Using the platform of the undergraduate innovative experimental project, a fault simulation experiment box of analog circuits is developed in this paper. The fault simulation experiment box has the following features: circuit boards are easy to plug and unplug; circuit boards can get power and input signals automatically; fault types can be selected optionally. The experiment box can satisfy the demands of analog electronics teaching and researching.

关键词

模拟电子技术/故障模拟/实验箱/创新实验

Key words

analog electronics/fault simulation/experiment box/innovative experiment

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

黄亮,侯建军,马庆龙,陈新,李赵红..模拟电子技术故障模拟实验箱开发的创新实验[J].高教学刊,2016,(1):175-176,178,3.

基金项目

中央高校基本科研业务费专项基金(项目编号:北京交通大学2013JBM016)﹔高等学校博士点基金新教师类(项目编号:20130 009120042). (项目编号:北京交通大学2013JBM016)

高教学刊

2096-000X

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