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湿法刻蚀FI CD均一性的影响因素及提高刻蚀均一性的研究

范学丽 靖瑞宽 翁超 陈启省 王晏酩 肖红玺 刘还平

液晶与显示2016,Vol.31Issue(1):67-73,7.
液晶与显示2016,Vol.31Issue(1):67-73,7.DOI:10.3788/YJYXS20163101.0067

湿法刻蚀FI CD均一性的影响因素及提高刻蚀均一性的研究

Improvement of etching uniformity and influence factors of wet etching of FI CD uniformity

范学丽 1靖瑞宽 1翁超 1陈启省 1王晏酩 1肖红玺 1刘还平1

作者信息

  • 1. 北京京东方光电科技有限公司,北京100176
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摘要

关键词

TFT-LCD/湿法刻蚀/FI CD/均一性

Key words

TFT-LCD/wet etching/FI CD/uniformity

引用本文复制引用

范学丽,靖瑞宽,翁超,陈启省,王晏酩,肖红玺,刘还平..湿法刻蚀FI CD均一性的影响因素及提高刻蚀均一性的研究[J].液晶与显示,2016,31(1):67-73,7.

液晶与显示

OA北大核心CSCDCSTPCD

1007-2780

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