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高分辨扫描电镜和X射线能谱Mapping技术研究碲矿物的成分和形态特征

胡勇平于学峰郑林伟郑遗凡

岩矿测试2015，Vol.34Issue(6)：643-651,9.

岩矿测试2015，Vol.34Issue(6)：643-651,9.DOI:10.15898/j.cnki.11-2131/td.2015.06.007

Application of High-resolution Scanning Electron Microscope and X-ray Energy Dispersive Spectroscope Mapping Technique to Study the Composition and Morphology of Tellurium Minerals

胡勇平 ¹于学峰 ²郑林伟 ¹郑遗凡³

作者信息

碲矿物/形态特征/扫描电镜/X射线能谱Mapping技术

telluride/morphological characteristics/Scanning Electron Microscope/X-ray Energy Dispersive Spectroscope Mapping technique

天文与地球科学

胡勇平,于学峰,郑林伟,郑遗凡..高分辨扫描电镜和X射线能谱Mapping技术研究碲矿物的成分和形态特征[J].岩矿测试,2015,34(6):643-651,9.

国家自然科学基金资助项目(41372086) （41372086）

中国地质大调查项目(12120113015100) （12120113015100）

国土资源部黏土矿物重点实验室开放课题(2014-K4) （2014-K4）

OA北大核心CSCDCSTPCD

ISSN：0254-5357

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