大功率变流技术Issue(1)：34-38,5.DOI:10.13889/j.issn.2095-3631.2016.01.008
应力-强度干涉模型在功率半导体器件失效分析中的应用
Application of Stress-strength Interference Model in Failure Analysis of Power Semiconductor Device
张西应 1颜骥 1任亚东1
作者信息
- 1. 株洲南车时代电气股份有限公司,湖南株洲412001
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摘要
关键词
晶闸管/机械应力/干涉模型/失效模式/可靠性/正态分布分类
信息技术与安全科学引用本文复制引用
张西应,颜骥,任亚东..应力-强度干涉模型在功率半导体器件失效分析中的应用[J].大功率变流技术,2016,(1):34-38,5.
