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退火升温速率对LaNiO3薄膜结构和电学性能的影响

姜涛 祝元坤 赵爽 李磊 余远根 王现英

人工晶体学报2016,Vol.45Issue(2):424-429,6.
人工晶体学报2016,Vol.45Issue(2):424-429,6.

退火升温速率对LaNiO3薄膜结构和电学性能的影响

Effect of Annealing Heating Rate on Structural and Electrical Properties of LaNiO3 Thin Films

姜涛 1祝元坤 1赵爽 1李磊 1余远根 1王现英1

作者信息

  • 1. 上海理工大学材料科学与工程学院,上海200093
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摘要

关键词

溶胶-凝胶法/LaNiO3薄膜/退火升温速率/电阻率

Key words

sol-gel method/LaNiO3 thin films/heating rate/resistivity

分类

数理科学

引用本文复制引用

姜涛,祝元坤,赵爽,李磊,余远根,王现英..退火升温速率对LaNiO3薄膜结构和电学性能的影响[J].人工晶体学报,2016,45(2):424-429,6.

基金项目

国家自然科学基金(11402149) (11402149)

上海市自然科学基金(14ZR1428000) (14ZR1428000)

沪江学者基金(B14006) (B14006)

人工晶体学报

OA北大核心CSCDCSTPCD

1000-985X

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