高压电器2016,Vol.52Issue(3):184-188,194,6.DOI:10.13296/j.1001-1609.hva.2016.03.030
不同运行年限的GIS缺陷率统计分析与运维建议
Statistical Analysis of Defects and Maintenance Advice for GIS in Different Operating Years Above 110 kV
张欣 1李高扬 2黄荣辉 1向真 1赵宇明 1姚森敬 1王小华2
作者信息
- 1. 深圳供电局有限公司,广东深圳518001
- 2. 西安交通大学电力设备电气绝缘国家重点实验室,西安710049
- 折叠
摘要
关键词
GIS/运行年限/缺陷率/控制系统/密封/机构Key words
gas insulted switchgear(GIS)/operating year/defect rate/control system/seal/mechanism引用本文复制引用
张欣,李高扬,黄荣辉,向真,赵宇明,姚森敬,王小华..不同运行年限的GIS缺陷率统计分析与运维建议[J].高压电器,2016,52(3):184-188,194,6.