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基于小波-灰色理论的UHV晶闸管管壳裂纹评测

马纲

南通职业大学学报2015,Vol.29Issue(4):110-113,4.
南通职业大学学报2015,Vol.29Issue(4):110-113,4.DOI:10.3969/j.issn.1008-5327.2015.04.029

基于小波-灰色理论的UHV晶闸管管壳裂纹评测

Evaluation of Wavelet Analysis and Gray Forecast Theory Used for Crack Propagation of the High Power Thyristor Ceramic Housing

马纲1

作者信息

  • 1. 苏州大学机电学院,江苏苏州215006;江苏城市职业学院机电工程系,江苏无锡214011
  • 折叠

摘要

关键词

UHV晶闸管管壳/小波-灰色理论/裂纹扩展评测

分类

机械制造

引用本文复制引用

马纲..基于小波-灰色理论的UHV晶闸管管壳裂纹评测[J].南通职业大学学报,2015,29(4):110-113,4.

基金项目

科技部科技型中小企业技术创新项目(11C26213201377) (11C26213201377)

南通职业大学学报

1008-5327

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