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Issue(11):P.6-6,1.
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Issue(11)
:P.6-6,1.
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知识产权纠纷
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IEEE
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商业模式
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Tam
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华盛顿
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专利
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试用
分类
信息技术与安全科学
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..撰稿人[J].科技纵览,2015,(11):P.6-6,1.
科技纵览
ISSN:
2095-4409
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