物理化学学报2016，Vol.32Issue(1)：283-289,7.DOI:10.3866/PKU.WHXB201511132
单晶硅片负极界面形貌的原位AFM探测
In situ AFM Investigation of Interfacial Morphology of Single Crystal Silicon Wafer Anode
摘要
关键词
硅负极/固体电解质界面膜/原位原子力显微镜Key words
Si anode/Solid electrolyte interphase/In situ atomic force microscopy分类
化学化工引用本文复制引用
刘兴蕊,严会娟,王栋,万立骏..单晶硅片负极界面形貌的原位AFM探测[J].物理化学学报,2016,32(1):283-289,7.基金项目
The project was supported by the Ministry of Science and Technology (2011YQ03012415,2011CB932302) and National Natural Science Foundation of China (21127901,21573252).科技部(2011YQ03012415,2011CB932302)及国家自然科学基金(21127901,21573252)资助项目 （2011YQ03012415,2011CB932302）
