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用于多传感器坐标测量机探测误差评价的薄环规标准器

位恒政王为农裴丽梅郑庆国

光学精密工程2016，Vol.24Issue(3)：521-525,5.

光学精密工程2016，Vol.24Issue(3)：521-525,5.DOI:10.3788/OPE.20162403.0521

Thin ring gauge artifact for probing error evaluation of multi-sensor coordinate measuring machine

位恒政 ¹王为农 ¹裴丽梅 ¹郑庆国¹

作者信息

多传感器坐标测量机/影像传感器/接触式传感器/薄环规标准器/测量不确定度

multi-sensor coordinate measurement machine/imaging probe/touch probe/thin ring gauge artifact/measurement uncertainty

机械制造

位恒政,王为农,裴丽梅,郑庆国..用于多传感器坐标测量机探测误差评价的薄环规标准器[J].光学精密工程,2016,24(3):521-525,5.

中国计量科学研究院基本科研业务费专项资金资助项目(No.24-YZC1401) （No.24-YZC1401）

OA北大核心CSCDCSTPCD

ISSN：1004-924X

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