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SiC压阻式压力传感器感应膜片热-结构耦合分析

袁方超 李舜酩

重庆理工大学学报(自然科学版)2016,Vol.30Issue(1):26-31,6.
重庆理工大学学报(自然科学版)2016,Vol.30Issue(1):26-31,6.DOI:10.3969/j.issn.1674-8425(z).2016.01.005

SiC压阻式压力传感器感应膜片热-结构耦合分析

Thermal-Structure Coupling Analysis of Sensing Diaphragm of Piezoresistive Silicon Carbide Pressure Sensor

袁方超 1李舜酩1

作者信息

  • 1. 南京航空航天大学能源与动力学院,南京210016
  • 折叠

摘要

关键词

碳化硅/小挠度理论/感应膜片/热-结构耦合

Key words

silicon carbide/little deflection theory/sensing diaphragm/thermal-structure coupling

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

袁方超,李舜酩..SiC压阻式压力传感器感应膜片热-结构耦合分析[J].重庆理工大学学报(自然科学版),2016,30(1):26-31,6.

基金项目

中央高校基本科研业务费专项资金资助项目(NZ2015103) (NZ2015103)

机械结构强度与振动国家重点实验室资助项目(SV2015-KF-01) (SV2015-KF-01)

重庆理工大学学报(自然科学版)

OACSTPCD

1674-8425

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