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微缩投影系统的垂轴放大率测量

谢耀 王丽萍 郭本银 王君 苗亮 王辉 周烽

光学精密工程2016,Vol.24Issue(1):1-6,6.
光学精密工程2016,Vol.24Issue(1):1-6,6.DOI:10.3788/OPE.20162401.0001

微缩投影系统的垂轴放大率测量

Measurement of transversal magnification for reduced projection system

谢耀 1王丽萍 1郭本银 1王君 1苗亮 1王辉 1周烽1

作者信息

  • 1. 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所应用光学国家重点实验室,吉林长春130033
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摘要

关键词

成像系统/微缩投影系统/垂轴放大率测量/点衍射干涉仪/离焦

Key words

imaging system/reduced projection system/transversal magnification measurement/point diffraction interferometer/defocus

分类

机械制造

引用本文复制引用

谢耀,王丽萍,郭本银,王君,苗亮,王辉,周烽..微缩投影系统的垂轴放大率测量[J].光学精密工程,2016,24(1):1-6,6.

基金项目

国家科技重大专项基金资助项目(No.2008ZX02501-008) (No.2008ZX02501-008)

光学精密工程

OA北大核心CSCDCSTPCD

1004-924X

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