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板上芯片集成封装发光二极管的光色检测系统

裘燕青张刘刘陈苗根王成群

光学精密工程2016，Vol.24Issue(1)：39-44,6.

光学精密工程2016，Vol.24Issue(1)：39-44,6.DOI:10.3788/OPE.20162401.0039

Photoelectric parameter measurement system for chip-on-board wafer level packaging LEDs

裘燕青 ¹张刘刘 ¹陈苗根 ¹王成群²

作者信息

光色检测/发光二极管(LED)/板上芯片(COB)/色坐标/色温/光通量

chromatic parameter measurement/Light Emitting Diode(LED)/Chip-on-board(COB)/color coordinate/color temperature/luminous flux

信息技术与安全科学

裘燕青,张刘刘,陈苗根,王成群..板上芯片集成封装发光二极管的光色检测系统[J].光学精密工程,2016,24(1):39-44,6.

浙江省科技厅公益技术应用研究项目(No.2014C31114) （No.2014C31114）

OA北大核心CSCDCSTPCD

ISSN：1004-924X

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