光学精密工程2016，Vol.24Issue(1)：59-64,6.DOI:10.3788/OPE.20162401.0059
低温状态下的材料法向发射率测量
Measurement of normal emissivity of materials at low temperature
摘要
关键词
材料发射率测量/低温测量/法向发射率/真空液氮背景通道/测量不确定度Key words
material emissivity measurement/low temperature measurement/normal emissivity/vacuum and liquid nitrogen background channel/measurement uncertainty引用本文复制引用
袁林光,薛战理,李宏光,李涛,杨鸿儒..低温状态下的材料法向发射率测量[J].光学精密工程,2016,24(1):59-64,6.基金项目
十二五总装预研项目(No.62201050103) （No.62201050103）
