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近场微波显微镜测量介电常数的研究

杨山 吴喆 张兆镗 曾葆青

真空电子技术Issue(2):62-63,68,3.
真空电子技术Issue(2):62-63,68,3.

近场微波显微镜测量介电常数的研究

The Study on Measurement of Dielectric Constant with Near-Field Scanning Microwave Microscopy

杨山 1吴喆 1张兆镗 1曾葆青1

作者信息

  • 1. 电子科技大学物理电子学院,四川成都610054
  • 折叠

摘要

关键词

近场微波显微镜/介电常数/定量测量

Key words

Near-field scanning microwave microscopy/Dielectric constant/Quantitative measurement

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

杨山,吴喆,张兆镗,曾葆青..近场微波显微镜测量介电常数的研究[J].真空电子技术,2016,(2):62-63,68,3.

基金项目

国家自然科学基金(批准号:61301053和11375155) (批准号:61301053和11375155)

中国博士后科学基金会(批准号:20100481377) (批准号:20100481377)

微波电真空器件国家级重点实验室和中央高校基本科研业务费专项资金(批准号:ZYGX2011J044). (批准号:ZYGX2011J044)

真空电子技术

1002-8935

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