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重掺硼对直拉单晶硅片上压痕位错运动的影响

赵泽钢 赵剑 马向阳 杨德仁

材料科学与工程学报2016,Vol.34Issue(3):345-347,361,4.
材料科学与工程学报2016,Vol.34Issue(3):345-347,361,4.DOI:10.14136/j.cnki.issn 1673-2812.2016.03.001

重掺硼对直拉单晶硅片上压痕位错运动的影响

Effect of Heavy Boron-doping on Motion of Indentation Dislocations on Silicon Wafers

赵泽钢 1赵剑 1马向阳 1杨德仁1

作者信息

  • 1. 硅材料国家重点实验室,浙江大学材料科学与工程学院,浙江杭州 310027
  • 折叠

摘要

关键词

单晶硅片/重掺硼/位错滑移

Key words

Silicon wafer/heavy boron-doping/dislocation gliding

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

赵泽钢,赵剑,马向阳,杨德仁..重掺硼对直拉单晶硅片上压痕位错运动的影响[J].材料科学与工程学报,2016,34(3):345-347,361,4.

基金项目

国家自然科学基金资助项目(60906001和61274057)、国家科技重大专项资助项目(2010ZX02301-003) (60906001和61274057)

材料科学与工程学报

OA北大核心CSCDCSTPCD

1673-2812

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